히오키 재팬

FA1220-02 회로 내 테스터

히오키 FA1220-02 회로 내 테스터 본 시스템은 대량 생산 환경에서 조립된 인쇄 회로 기판(PCBA)에 대한 합격/불합격 판정을 내리는 데 사용되는 고성능 자동 테스트 시스템입니다. 주요 목적은 회로 기판에 실장된 전자 부품의 품질과 신뢰성을 보장하는 것입니다. 조립된 회로 기판의 생산성 향상을 위한 배치 테스트 시스템입니다.

• 구성 요소 테스트: 이 장비는 저항, 콘덴서, 다이오드, 트랜지스터 및 집적 회로(IC)를 포함하여 보드에 장착된 다양한 전자 부품에 대한 광범위한 테스트를 수행합니다.
• 결함 감지: 이 시스템은 개방 회로, 단락 회로, 잘못된 부품 값, 극성이 반대인 부품(예: 전해 콘덴서 및 일부 IC)의 역삽입, 일반적인 부품 고장과 같은 다양한 결함을 감지하기 위해 수많은 측정 매개변수를 사용합니다.
• 정밀 측정: 이 장비는 초저저항 측정(밀리옴 범위) 기능을 갖추고 있어 적절한 연결 및 납땜 접합부를 확인하는 데 매우 중요합니다.
• 생산 품질 보증: 이 시험기는 전자 제품의 배치 테스트를 수행하고 높은 품질 기준을 유지하기 위해 제조 및 생산 라인에서 사용하도록 설계되었습니다.

영상: PCB 테스트의 혁명, HIOKI FA1220 작동 모습! | 인서킷 테스터 | 조립된 회로 기판

• 간소화된 워크플로우: 테스트 픽스처용 "슬라이드인" 메커니즘은 설치 및 제거를 간소화하여 다양한 보드 유형 간 전환에 필요한 수작업과 시간을 크게 줄여줍니다.
• 자동화 통합: FA1220-02의 컴팩트하고 모듈식 설계는 자동화된 테스트 장비 및 셀 생산 시스템에 쉽게 통합할 수 있도록 하여 효율적이고 현대적인 "스마트 팩토리" 접근 방식을 지원합니다.
• 확장성: 이 시스템은 고도로 통합되어 있으며 최대 2,048개의 테스트 포인트를 지원하므로 이전 모델에 비해 추가적인 공간 없이 광범위한 테스트 범위를 제공합니다.

사양:

측정 단위
직류 전압계: 800 μV fs ~ 25 V fs, 8개 측정 범위
직류 전류계: 100 nA fs ~ 250 mA fs, 9개 측정 범위
교류 전류계: 10μA rms ~ 10mA rms, 4단계 측정
고전압 전압계: 25mVfs ~ 250Vfs (E4210 및 E4203 필요)
고전압 전류계: 1.2 μA fs ~ 120 mA fs (E4210 및 E4203 필요)

테스트 포인트 수 표준: 0핀 (스캐너 보드는 선택 사항)
최대 2048핀 (128핀 단위로 확장 가능)*
* 각 테스트 유형에 사용할 수 있는 최대 활성 핀 수는 제품에 설치된 스캐너 보드 핀의 총 개수에 따라 달라집니다.

테스트 단계 수 그룹 데이터: 256개 그룹
라운드 로빈 방식의 단락/개방형 데이터: 2048핀*
매크로 데이터: 2048핀*/2048단계(핀 개수와 무관)
구성 요소 데이터: 10,000단계
충전 데이터: 40개 그룹
PIN 접점 데이터: 2048개 핀*
IC 데이터: 500단계(단계당 최대 2048핀)*

스캐너 장치 스위치 유형: 아날로그(스캐너 보드 E4201 및 E4202), 릴레이 판독(스캐너 보드 E4203)
보드당 채널 수: 128개
입력 보호: ±15V (스캐너 보드 E4201 및 E4202), 없음 (스캐너 보드 E4203)
외부 I/O

포함된 액세서리: 사용 설명서 1개, 테스트 리드 1개, 애플리케이션 디스크 1개, 위치 고정 나사 4개, 유지보수 키(유지보수 도어 개폐용) 1개